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主要特色：
測試項目
硬體設備
致茂58212-C是一台自動化的LED外延片/芯片探 針測試設備，提供快速、準確的LED測量測且整 體量測時間＜125ms *1。
系統的設計採用了靈活的設計為不同類型的LED 結構包括橫向型，垂直型和倒裝芯片類型。用戶 可以選擇合適的結構類型LED測量。完整掃描程 序可提供獨立的晶圓圖以保證測試的精度。專利 的探針頭可防止待測物的刮傷並確保每一個LED 接觸。
透過致茂獨特的光學設計與元件可取得精確且穩 定快速之光學數據如主波長、峰波長、色溫等， 該系統具備完整之電性量測單元，無論順向電 壓、漏電流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性， 均可於一次滿足使用者的測試需求。
58212-C包含彈性調整的軟體操作界面及先進的 邏輯演算法使得生產效益大幅提升 ；完善的統計 報表及分析工具可以讓使用者用輕鬆掌握生產狀 況。
Note *1: 測試條件：在間距300um、5道電性測 項、1道光學測項條件下取樣。由於LED的特性的 差異，測量結果可能會有所不同。
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