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3555电池测试仪产品概述 立即测定电池劣化情况:小型二次电池用 ● 通过对电池的内电阻和内电压的测量 ● 以合格（pass），警告（warning）及不合格（fail）三段指示 ● 使本系列产品能够立即得到电池状态的结果
IM7587阻抗分析仪产品概述 可信赖的机型3GHz ● 测试电压测量频率：1MHz~3GHz ● 测量时间：较快0.5ms（模拟测量时间） ● 测量值偏差：0.07%（测量频率1GHz时的代表值） ● 基本精度：±0.65% rdg. ● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头尺寸仅手掌大小 ● 丰富的接触检查（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定） ● 分析模式下可以边扫描测量频率、测量信号电平边
IM7585阻抗分析仪产品概述 高速、高稳定性测量，提高生产量！测量时间：较快0.5ms，测量值偏差0.07% ● 测量频率：1MHz~1.3GHz ● 测量时间：较快0.5ms（模拟测量时间） ● 测量值偏差：0.07%（测量频率1GHz时的代表值） ● 基本精度：±0.65% rdg. ● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小 ● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
IM7583阻抗分析仪产品概述 高速、高稳定性测量，提高生产量！测量时间：较快0.5ms ● 测量频率：1MHz~600MHz ● 测量时间：较快0.5ms（模拟测量时间） ● 基本精度：±0.65% rdg. ● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小 ● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定） ● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
IM7581阻抗分析仪产品概述 较快0.5ms，覆盖100kHz~300MHz的低频 ● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小 ● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定） ● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
IM7580A阻抗分析仪产品概述 较快0.5ms，高速、高稳定测量，节省空间的半个机架大小 ● 测量频率1MHz~300MHz ● 测量时间：较快0.5ms ● 基本精度±0.72%rdg. ● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小 ● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定） ● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
IM3590化学阻抗分析仪产品概述 用于测量电气化学零件和材料/电池/EDLC（电气双层电容） ● 适用于离子运动和溶液电阻测量，1mHz ～ 200kHz的宽范围信号源 ● 1台机器即可实现LCR测量、扫描测量的连续测量和高速检查 ● 可测量电池的无负载状态产生的内部电阻 ● 较快2ms的高速测量，实现扫描测量的高速化 ● 基本精度±0.05%，零件检查到研究开发测量均可对应
IM3570阻抗分析仪产品概述 1台仪器实现不同测量条件下的高速检查 ● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查 ● LCR模式下较快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量 ● 基本精度±0.08%的高精度测量 ● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
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